近日，国家原子能机构抗辐照应用技术创新中心联合航天科技集团九院772所、中国电子科技集团有限公司第二十四研究所、国防科技大学等7家单位，基于原子能院多粒子可变能量回旋加速器试验终端，成功开展首次辐射效应实验，稳定供束约100小时，辐照了静态随机存取存储器(SRAM)、现场可编程门阵列(FPGA)等多款电子器件，获得了一系列辐射效应关键实验数据。